微观材料分析

光波导、表面与涂层计量

Phasics 的波前传感器和定量相位成像相机结构紧凑、不易受振动影响，并可集成到任何光学显微镜中。因此，SID4 是进行在线和离线材料检测的理想工具，可用于透明材料折射率变化分布测量、激光诱导损伤阈值监测、光学表面形貌测量以及纳米颗粒的光热成像。

该设备可测量多种样品，包括飞秒激光刻写波导、光纤布拉格光栅、微结构光学表面、光学涂层和纳米颗粒等。

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优势

丰富的测量信息

  • 光程差（OPD）
  • 折射率变化
  • 表面形貌

无缝集成

  • 即插即用的相机式仪器
  • 兼容任何显微镜
  • 无需使用专用物镜

强大的测量能力

  • 单次采集即可获得二维光程差（OPD）图
  • 亚纳米级灵敏度
  • 不受振动影响

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