光学元件与系统检测解决方案:调制传递函数(MTF)、波前像差、表面测量等
Phasics 提供全系列计量工具,适用于生产与研发环境中的光学质量控制、光学系统校准和表面测量。Phasics 的计量仪器涵盖从独立式波前传感器到自动化测试平台的多种产品。
这些解决方案覆盖从紫外到远红外的光谱范围,既能进行全面测量,又兼具操作简便和用途广泛的特点。测量参数包括调制传递函数(MTF)、波前像差、表面面形和表面质量。
需要解答?联系我们的专家!
联系我们优势
灵活的测试配置
- 单程或双程测试
- 轴上或视场内测试
- 兼容各种光源:激光器、LED、黑体
单次采集即可获得完整测量结果
- 波前与像差
- 调制传递函数(MTF):任意方向及穿焦测量
- 光学参数:有效焦距(EFL)、焦比(F/#)、数值孔径(NA)、点扩散函数(PSF)
丰富的解决方案
- 覆盖紫外、可见光、近红外、短波红外、中波红外和长波红外
- 独立式波前传感器
- 全自动测试平台
产品 22
展示Exosen全部产品
测量工作站
R-Cube光源模块
测量工作站
Kaleo IR系列红外光学测试台
测量工作站
Kaleo MTF测量工作站
测量工作站
Kaleo MultiWAVE
测量工作站
KALEO套件
测量工作站
定制光学测试仪器
波前传感器
SID4
波前传感器
SID4 DWIR
波前传感器
SID4 eSWIR
波前传感器
SID4 eSWIR HR
波前传感器
SID4 HR
波前传感器
SID4 HR V
波前传感器
SID4 kHz
波前传感器
SID4 SWIR
波前传感器
SID4 SWIR HR
波前传感器
SID4 UHR
波前传感器
SID4 UV
波前传感器
SID4 UV HR
波前传感器
SID4 XHR
波前传感器
定制SID4波前传感器
配件及软件
PhaseStudio
配件及软件
软件套装